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地铁的安检机器会损坏笔记本手机相机等电子产

  发布时间:2019-12-30 18:01
 

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  对无奈光学检测的荫蔽区域,(如阵列器件;BGA,CSP,Flip-Chip),X射线检测已变得十分主要。在进行检测历程,被测样品处于高能量光子的离子辐射,并接遭到必然剂量的辐射。有些器件容易遭到...

  大剂量辐射无疑会形成缺陷,在供应商演示X射线检测时,器件没有经遭到足够大的辐射剂量,因而器件不会形成损坏。可是应关怀这些错综的缺陷机理,如数码颠倒,法式数据遗失,抹去或漏损存贮消息。惹人乐趣的是,器件的缺陷拥有一些统计纪律,是随机的,变迁的,布局上的损坏并不偏见。

  对无奈光学检测的荫蔽区域,(如阵列器件;BGA,CSP,Flip-Chip),X射线检测已变得十分主要。在进行检测历程,被测样品处于高能量光子的离子辐射,并接遭到必然剂量的辐射。有些器件容易遭到离子辐射而损坏。所以在近行X射线检测时,操作者必需思量到X射线的剂量,包管器件免受损坏。

  上两段摘自某篇手艺文章的两段。但是我查了很多网站,回覆的人都说不会。像最简略的BGA在电脑里是最常见不外的了,为什么都说没影响呢??能不克不迭告诉我一个比力让人信服的回覆,用手艺来回覆。

  展开全数你所说的检测是指的是电子器件缺陷检测设施吧?这个检测的详尽水平要比安检机械要强的多(安检仅测外形),而查验越详尽,X辐射的强度就越大。所以安检不会损坏机械。

  所以,在进行X射线检测时,装置在电路基板上的器件经受着危害,该当丈量辐射剂量,确定严酷的阀值。半导体器件上的辐射剂量是累积的,若反复检测,则器件接管双倍的剂量。因而,凡是在返修操作后,从头检测一定对器件形成影响。

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